- Sections
- H - électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/285 - Microscopes à émission, p.ex. microscopes à émission de champ
Détention brevets de la classe H01J 37/285
Brevets de cette classe: 163
Historique des publications depuis 10 ans
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35
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2
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
22 |
| FEI Company | 851 |
12 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 9632 |
6 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
6 |
| JEOL Ltd. | 556 |
5 |
| Scienta Omicron AB | 18 |
5 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
4 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
4 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
4 |
| Ebara Corporation | 1951 |
4 |
| CAMECA Instruments, Inc. | 19 |
4 |
| IMEC VZW | 1410 |
4 |
| Institut National des Sciences Appliquees de Rouen (insa) | 29 |
4 |
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
4 |
| Universite de Rouen Normandie | 91 |
4 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
3 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 149 |
3 |
| Imago Scientific Instruments Corporation | 18 |
3 |
| Atomnaut, Inc. | 4 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
2 |
| Autres propriétaires | 57 |